| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 醫療衛生,能源,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
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為了獲得用于非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量，請升級到1207N Varex Imaging CMOS（互補金屬氧化物半導體）X射線平板探測器。
1207N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術，并提供了一系列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
1207N平板探測器的功能和優點包括：
為了獲得用于非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量，請升級到1512N Varex Imaging CMOS（互補金屬氧化物半導體）平板探測器。
1512N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術，并提供了一系列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
1512N平板探測器的功能和優點包括：
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
2315N平板探測器的功能和優點包括：
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